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JEM-3100F 场发射透射电子显微镜
点分辨率:0.17nm 线分辨率:0.1nm STEM :0.14nm 电子枪 :肖特基式热场发射枪 亮度 :7x108A/cm2sr以上 束流强度:0.5nA 以上/1nm
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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案 JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG
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JEM-2100F 场发射透射电子显微镜
5.STEM分辨率:0.20nm 高分辨率观察及纳米尺度分析所不可或缺的集成化透射电镜 高分辨率观察及纳米尺度分析所不可或缺的集成化透射电镜JEM-2100F配备的场发射电子枪(FEG)能
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HF-3300场发射透射电子显微镜
高亮度冷场发射电子枪冷 场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率能力保证了纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。300KV高压系统 300KV高压系统保证了厚
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JSM-2200FS能量过滤场发射透射电镜
放大倍率: 50X-1,500,000X加速电压: 80,100,120,160,200分辨率: 0.19nm仪器种类: 场发射JEM-2200FS透射电子显微镜,标配场发射电子枪和镜筒内置式能量
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场发射透射电子显微镜 TH-F120
源自中华名山“太行”(TH),寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。中国首台商业场发射透射电镜产品TH-F120取名源自中华名山“太行”(TH),寓意TH-F120将如太行山
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JEM-F200冷场发射透射电镜
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JEM-2100 透射电子显微镜
主要功能及应用功能:透射像(明场、暗场和高分辨像)观察,选区电子衍射结构分析和纳米区域的成份分析。主要应用于固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析。 采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供
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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜
(112)情况下保证.3. 选配件4. 标准电压: 120 kV, 200 kV参考招标参数(单一来源):一、项目名称:东北大学“JEM-ARM200F场发射球差校正透射电镜”采购二、采购编号
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JEM-2500SE 透射电子显微镜
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